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DD3鎳基單晶高溫合金噴丸層殘余應力的X射線衍射分析
          
X-ray Diffraction Analysis for Residual Stress in Shot Peened Layer of DD3 Nickel-Based Single Crystal High Temperature Alloy

摘    要
對DD3鎳基單晶高溫合金表面進行噴丸處理, 利用X射線衍射方法研究了噴丸層中殘余應力沿層深的分布。結果表明: 噴丸層中存在的殘余壓應力在層深為10 μm處達到最大值, 且隨著層深的增加而降低; 噴丸表層單晶組分中的殘余壓應力與多晶組分中的基本接近, 次表層中兩者存在較大差別, 隨著材料層深的增加二者的差別更加明顯, 單晶組分中的殘余壓應力水平更高, 分布深度更大。
標    簽 鎳基單晶高溫合金   噴丸   殘余應力   X射線衍射   nickel-based single crystal high temperature alloy   shot peening   residual stress   X-ray diffraction  
 
Abstract
Shot peening was carried on the DD3 nickel-based single crystal high temperature alloy, and the X-ray diffraction analysis was applied to study the residual stresses distribution along layer depth in the shot peened layer. The results show that the residual stress in shot peened layer was maximum at the layer depth of 10 μm and decreased with the increase of layer depth. The residual compressive stress in monocrystalline component of the shot peened surface layer was basically similar to that in polycrystalline component, while major difference was found in the sub-surface and the difference was more apparent with the increase of layer depth. The value of residual compressive stress in monocrystalline component was much larger and the distribution depth was much deeper.

中圖分類號 TB35

 
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所屬欄目 殘余應力

基金項目 國家自然科學基金資助項目(50771066)

收稿日期 2011/3/28

修改稿日期 2011/12/29

網絡出版日期

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備注陳艷華(1978-), 女, 江蘇銅山人, 博士研究生。

引用該論文: CHEN Yan-hua,XU Qing,JIANG Chuan-hai,JI Vincent. X-ray Diffraction Analysis for Residual Stress in Shot Peened Layer of DD3 Nickel-Based Single Crystal High Temperature Alloy[J]. Materials for mechancial engineering, 2012, 36(3): 76~78
陳艷華,須慶,姜傳海,嵇寧. DD3鎳基單晶高溫合金噴丸層殘余應力的X射線衍射分析[J]. 機械工程材料, 2012, 36(3): 76~78


被引情況:


【1】盧運鵬,汪崇建, "噴丸工藝對18Cr2Ni4WA鋼殘余應力影響的有限元模擬",機械工程材料 39, 91-94(2015)



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參考文獻
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